API-UT-1 試塊包

件號(hào):LY-API-K1; 品牌:FlawTech; 美國原裝進(jìn)口。
分類：API標(biāo)準(zhǔn)試塊包 試塊
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產(chǎn)品詳情

適用于鐵素體焊接件的UT考試。

試塊包包含：
  • 材料：碳鋼。
  • 一套共4個(gè)試塊：
  • 1個(gè)平板試塊：1.0″的厚平板試塊，雙面V坡口（1″ × 12″ × 15″）
  • 1個(gè)平板試塊：0.5″的厚平板試塊，單面V坡口（0.5″ × 10″ × 12″）
  • 1個(gè)管試塊：8″ Sch80 (0.5″ Wall × 12″, 360°)
  • 1個(gè)管試塊：12″ Sch80 (0.688″ Wall × 12″, 180° Seg.)

缺陷：每個(gè)試塊包含2-4個(gè)任意存在的缺陷，共12個(gè)缺陷。包含：
未焊透
中心裂紋
夾渣
未熔合
根部裂紋
疏松
錯(cuò)邊
過渡滲透

  • 公差：± 0.080″。
  • 附帶文件包含：符合性證書、CAD 圖紙與檢測表格。
  • 總重量：約225磅（請(qǐng)注意，由于重量，將有特殊的運(yùn)輸注意事項(xiàng)）。

API套裝可選配置：
  • 10% ID/OD校準(zhǔn)槽。
  • 0.75″ × 4.5″ × 6″ ASME Sec. V基礎(chǔ)校準(zhǔn)試塊。
  • 帶鎖儲(chǔ)放箱。
  • 射線底片。

重量：200磅