FlawTech,美國(guó)原裝進(jìn)口常規(guī)探傷方法試塊包含了超聲,磁粉,滲透,渦流,射線,目視等6個(gè)方法標(biāo)準(zhǔn)試塊,試塊共有30個(gè)經(jīng)典缺陷類型