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美國AccuMax XRP-3000黑白光照度計(jì)使用快速說明教程

網(wǎng)站管理員 — Wed, 25 Jun 2025 06:21:12 +0000

一、產(chǎn)品概述

AccuMax XRP-3000黑白光照度計(jì)是一款功能強(qiáng)大的測量儀器，它采用微處理器控制的主機(jī)，搭配雙波長探測器，能夠同時(shí)精準(zhǔn)測量 UVA（黑光）紫外線強(qiáng)度及白光照度。該儀器具有自動清零、累積照射能量、信號保持等實(shí)用功能，為用戶提供精確的測量數(shù)據(jù)。其結(jié)實(shí)的主機(jī)殼配有可拆橡膠保護(hù)套，不僅方便操作，還能有效防止意外破損，并且具備優(yōu)秀的防潮、撞擊及濕度保護(hù)性能。同時(shí)，密封傳感器外殼及防水的 USB 連接器，進(jìn)一步增強(qiáng)了儀器的耐用性和可靠性。

二、適用標(biāo)準(zhǔn)

AccuMax XRP-3000黑白光照度計(jì)符合多項(xiàng)嚴(yán)格標(biāo)準(zhǔn)，以確保其測量的準(zhǔn)確性和可靠性，滿足不同行業(yè)的專業(yè)需求。在無損檢測領(lǐng)域，它滿足 MIL 及 ASTM 對于磁粉及滲透檢測規(guī)范要求。這意味著在相關(guān)檢測工作中，該照度計(jì)能夠提供符合標(biāo)準(zhǔn)的測量結(jié)果，為檢測工作的準(zhǔn)確性和規(guī)范性提供有力保障，使檢測結(jié)果具有權(quán)威性和公信力，可作為判斷檢測對象是否符合質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的重要依據(jù)。

三、適用場景

無損檢測：在熒光磁粉探傷、熒光滲透探傷等無損檢測工作中，需要精確測量紫外線強(qiáng)度及白光照度。例如，在對航空零部件、汽車關(guān)鍵部件等進(jìn)行檢測時(shí)，AccuMax XRP - 3000 可幫助檢測人員準(zhǔn)確判斷缺陷位置和程度，確保產(chǎn)品質(zhì)量安全。因?yàn)樽贤饩€強(qiáng)度和白光照度的準(zhǔn)確測量，能夠使檢測劑在合適的光照條件下更好地顯現(xiàn)出零部件表面或內(nèi)部的缺陷，從而保障檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性，避免因光照條件不準(zhǔn)確而導(dǎo)致的檢測失誤。
工業(yè)生產(chǎn)：在工廠的生產(chǎn)環(huán)境中，如電子制造、食品加工等行業(yè)，需要對工作區(qū)域的光照強(qiáng)度進(jìn)行嚴(yán)格控制。AccuMax XRP - 3000 可用于檢測生產(chǎn)線上的光照度是否符合標(biāo)準(zhǔn)，以保證產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定性和一致性。例如，在電子芯片制造過程中，合適的光照強(qiáng)度有助于工人進(jìn)行精密操作，防止因光照不足或過強(qiáng)導(dǎo)致的生產(chǎn)失誤；在食品加工車間，適宜的光照度能保證食品的質(zhì)量安全，避免因光照問題引發(fā)食品變質(zhì)等情況。
實(shí)驗(yàn)室研究：在光學(xué)、材料學(xué)等實(shí)驗(yàn)室研究中，常常需要精確測量不同光源的照度。AccuMax XRP - 3000 的高精度測量性能能夠滿足科研人員對實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性的要求，為科學(xué)研究提供可靠的數(shù)據(jù)支持。例如，在研究新型材料對不同光照強(qiáng)度的響應(yīng)特性時(shí)，該照度計(jì)能夠準(zhǔn)確測量實(shí)驗(yàn)過程中的光照強(qiáng)度變化，幫助科研人員分析材料性能與光照強(qiáng)度之間的關(guān)系，推動科研工作的順利進(jìn)行。

四、使用步驟

安裝電池：打開儀器底部的電池倉蓋，裝入兩節(jié) 9V 堿性電池，注意電池的正負(fù)極方向正確。安裝完成后，蓋好電池倉蓋。
連接傳感器探測器：可選擇將傳感器探測器直接連接到讀數(shù)單元，或者使用適配器電纜進(jìn)行連接。連接時(shí)，確保連接穩(wěn)固，避免松動影響信號傳輸。
開機(jī)：長按電源開關(guān)鍵（ON/OFF）兩秒鐘，儀器開機(jī)。此時(shí)，儀器自動進(jìn)入操作模式，開始進(jìn)行測量。
測量：將雙探測器上感興趣的傳感器（UV 或 VIS）直接對準(zhǔn)光源，儀器將立即讀取并顯示每個(gè)波長的光強(qiáng)度（單位面積的強(qiáng)度）。例如，在測量紫外線強(qiáng)度時(shí)，將 UV 傳感器對準(zhǔn)紫外線光源；測量白光照度時(shí)，將 VIS 傳感器對準(zhǔn)白光光源。
讀取數(shù)據(jù)：儀器的液晶顯示屏（LCD）以四行格式顯示讀數(shù)、單位、操作模式和儀表狀態(tài)，同時(shí)結(jié)合易于讀取的圖標(biāo)和字母數(shù)字字符。UV 和 VIS 水平讀數(shù)會根據(jù)測量幅度自動調(diào)整（自動量程），并以適當(dāng)?shù)?nbsp;4 位分辨率單位顯示。例如，當(dāng)測量值為 12000μW/cm² 時(shí)，顯示屏可能顯示為 12.00mW/cm² 。
功能操作：
1. 自動清零：若要減少環(huán)境光的影響，按一下 “Zero” 按鈕，激活自動清零功能，將當(dāng)前值設(shè)為 “0”，隨后的測量將顯示相對讀數(shù) 。這在環(huán)境光復(fù)雜多變的測量場景中非常實(shí)用，能夠提高測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
2. 保持功能：按下 “HOLD” 按鈕，可凍結(jié)顯示屏上的數(shù)據(jù)，方便用戶記錄測量值。當(dāng)測量數(shù)據(jù)波動較大，而需要獲取某一時(shí)刻的穩(wěn)定值時(shí)，該功能尤為有用。
3. 積分功能：按下 “INTG” 按鈕，儀器將顯示之后一段時(shí)間內(nèi)的紫外線能量及平均紫外線強(qiáng)度。此功能可用于評估光源在一段時(shí)間內(nèi)的累計(jì)照射效果。

關(guān)機(jī)：測量工作完成后，長按電源開關(guān)鍵（ON/OFF）兩秒鐘，儀器關(guān)機(jī) 。關(guān)機(jī)后，妥善保管儀器，避免碰撞和損壞。

美國spectroline XRP-3000黑白兩用紫外照度計(jì)的技術(shù)參數(shù)

主機(jī) XR-1000	分辨率	根據(jù)測量值顯示單位自動切換 zui多顯示四位
	采樣率	7.5Hz (單個(gè)傳感器時(shí))
		15Hz (雙傳感器時(shí))
	讀數(shù)更新	2 Hz
	全程精度	優(yōu)于 ±5%，按NIST(美國計(jì)量院)標(biāo)準(zhǔn)
	白光	0.01 lux (測量值為0-29.99 Lux時(shí)) 0.1lux (測量值為30.0-999.9 Lux時(shí)) 1 lux (測量值為1000-5300 Lux時(shí))
	UVA（黑光）	1 uw/cm2 (測量值為0-9999 uw/cm2時(shí)) 0.01mw/cm2 (10uw/cm2) (測量值為10.00-99.99 mw/cm2時(shí))
	屏幕	2.8”液晶顯示128x64像素單色
	溫度系數(shù)	±0.025%/℃(0-50℃)
雙波長探頭XDS-1000	量程
	UVA	0-100mw/cm2 (0-100000 uw/cm2)
	可見光	0–5,300 lux (0-500 fc)
XS-555/L傳感器	測量范圍	0-1,000,000 cd/m2 0-90,000 cd/ft2 0-285,000 fl
	尺寸	3.0”x2.1”x3.2”(7.6cmx5.3cmx8.1cm) (長x寬x高)
	重量	181克（6.4oz）
電源要求	兩節(jié)不可充電式 9V 堿性電池（含）
外形尺寸	主機(jī)
	長度	7.75”(19.7cm)
	寬度	4.25”(10.8cm)
	厚度	1.25”(3.2cm)
	重量	0.8磅(360克)
	傳感器探測器
	長度	4.73”(12.1cm)
	寬度	2.0”(5.1cm)
	厚度	7/8”(2.2cm)
	重量	0.22磅(100克)
	USB連線	5英尺(1.5m)
套裝包括	帶適配器的防水USB連線	XCB-100
	主機(jī)橡膠保護(hù)套	XRB-100
	手提箱	XCC-100

日本原裝進(jìn)口富士工業(yè)X光檢測膠片

網(wǎng)站管理員 — Sat, 25 Jan 2025 07:58:10 +0000

速度更快，品質(zhì)更高

自動顯影處理最短僅需5分鐘^*1。滿足多種用途的產(chǎn)品陣容。

富士膠片工業(yè)X光膠片有IX25到IX150等多種類型，在感光度、對比度、清晰度、顆粒度等方面具有優(yōu)異的特性?？筛鶕?jù)用途和被攝體類型的不同區(qū)分使用，可制作高質(zhì)量的工業(yè)X光片。

_{*1 IX25為自動顯影機(jī)處理專用，不支持5分鐘處理。此外，需要在5～10度的干燥溫度環(huán)境下使用。}

種類與特點(diǎn)

膠片種類	應(yīng)用示例	特點(diǎn)
IX25	鈞瓷部件薄壁焊接部電子部件核電廠航空器、發(fā)動機(jī)檢查	與上代產(chǎn)品相比，具有更細(xì)顆粒、更高對比度、優(yōu)異高清晰度的膠片。可檢測非常細(xì)微的缺陷或內(nèi)部結(jié)構(gòu)。一般直接或與鉛增感屏使用。（該膠片為自動顯影機(jī)處理專用膠片。此外需要在5～10度的干燥溫度環(huán)境下使用。）
IX30	航空器、發(fā)動機(jī)檢查核電廠電子部件精細(xì)陶瓷部件鑄造品	與上代產(chǎn)品相比，具有更細(xì)顆粒、更高對比度、優(yōu)異高清晰度的膠片?？蓹z測微小缺陷或內(nèi)部結(jié)構(gòu)，應(yīng)用領(lǐng)域廣泛，效果出色。一般直接或與鉛增感屏使用。
IX50	鋁（合金）鑄造品鋁（合金）鑄造品電子部件航空器、發(fā)動機(jī)檢查管道檢查	具有細(xì)顆粒、高對比度、優(yōu)異高清晰度的膠片，具有出色的檢測性。適用于拍攝鋁合金等輕合金，一般直接或與鉛增感屏配合使用。
IX80	鋁（合金）鑄造品鋁（合金）鑄造品鋼焊接部航空器、發(fā)動機(jī)檢查管道檢查	具有細(xì)顆粒、高對比度、優(yōu)異高清晰度的膠片，適合檢測細(xì)微的缺陷。適用于合成樹脂和輕金屬的低壓X射線檢查，也適用于通過高壓X射線和伽馬射線檢查厚的試樣。一般直接或與鉛增感屏配合使用。
IX100	鋼焊接部鋼鑄造部航空器、發(fā)動機(jī)檢查管道檢查	專為細(xì)顆粒和高對比度而設(shè)計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)型膠片，適用于從低電壓的輕金屬攝影至高壓X射線和伽馬射線的厚檢體的檢查。靈敏度高，應(yīng)用范圍廣泛。一般直接或與鉛增感屏配合使用。
IX150	厚壁鋼焊接部厚壁鋼鑄造部橋梁結(jié)構(gòu)物	采用高靈敏度、細(xì)顆粒和高對比度的膠片設(shè)計(jì)，與IX100同樣，適用于從低電壓至高壓X射線和伽馬射線的多種檢體檢查。在X射線機(jī)容量有限的情況下，對厚物體的效果更好。一般直接或與鉛增感屏配合使用。
IXFR	電子部件鋁合金鑄造品	具有細(xì)顆粒、高對比度、優(yōu)異的高清晰度。適合電子元件和精細(xì)陶瓷的低壓X射線攝影一般直接攝影。
IX100FS	厚壁焊接部弱源X射線檢查	結(jié)合熒光感光紙，既能檢測到微弱的X射線，又能實(shí)現(xiàn)高清晰度。在使用的線源有限制，或需要較長的曝光時(shí)間進(jìn)行檢查，如檢查厚重物體時(shí)，效果出色。（本公司產(chǎn)品IXG2增感屏專用膠片。)
IX300	厚壁焊接部混凝土弱源X射線檢查	結(jié)合熒光感光紙，能檢測到微弱的X射線。在使用的線源有限制，或需要較長的曝光時(shí)間進(jìn)行檢查，如檢查厚重物體時(shí)，效果出色。（本公司產(chǎn)品IXG2增感屏用膠片。）

膠片種類	相對感光度（IX100為100）				膠片系統(tǒng)級別^*2
膠片種類	100KV （直接曝光）	200KV （加鉛增感屏）	Ir-192 （加鉛增感屏）	Co-60 （加鉛增感屏）	JIS K 7627	ASTM E1815-08	ISO 11699-1
IX25	20	15	15	10	T1	SPECIAL	C1
IX30	30	25	18	16	T1	I	C2
IX50	35	30	30	30	T2	I	C3
IX80	55	55	55	55	T2	I	C4
IX100	100	100	100	100	T3	II	C5
IX150	200	200	170	170	T4	III	C6
IXFR	20	20	20	20	W-A	W-A	---
IX100FS	---	4000 IX G2增感屏	---	---	---	---	---
IX300	---	40000 IX G2增感屏	---	---	---	---	---

*2 按本公司推薦的條件分類

自動顯影機(jī)用的處理藥劑


SUPERDOL-I（38?裝）: 濃縮液型顯影液，工業(yè)X光膠片自動顯影機(jī)專用，顯影處理時(shí)間為5-11分鐘。SUPERDOL-I的的標(biāo)準(zhǔn)顯影溫度為5分鐘顯影30℃，11分鐘顯影23℃。
SUPERDOL-SI（80?裝）: SUPERDOL-I的啟動液。標(biāo)準(zhǔn)使用量為25m?/?。
SUPER-FI（38?裝）: 濃縮液型定影液，工業(yè)X光膠片自動顯影機(jī)專用，定影處理時(shí)間為5-11分鐘。

手動顯影用處理藥劑


Hi-RENDOL-I（5?×4裝濃縮液體）: 專用于工業(yè)X光膠片的手動顯影工序的高容量濃縮液型顯影液。適合大量使用。
Hi-RENFIX-I（5?×4裝濃縮液體）: 工業(yè)X光膠片專用的高性能快速酸性硬膜定影液。Hi-RENFIX-I為濃縮液型，用于手動顯影處理。屬于單一藥劑，調(diào)配簡單。
富士醋酸（50％溶劑）: 用水16比1稀釋，作為停顯液使用。停顯液是在顯影和定影之間使用的，以防止定影液變質(zhì)，并防止膠片上形成條紋、污點(diǎn)和污跡。
富士QW（2?×25裝粉末）: 水洗膠片時(shí)的促進(jìn)劑，具有大幅縮短膠片沖洗時(shí)間的特點(diǎn)。
FUJI Driwel（2?裝濃縮液體）: 防止膠片上的水滴不均勻，具有防止膠片干燥斑的特點(diǎn)。稀釋200倍使用。
富士清洗劑／中和劑套裝（40?裝）
: 富士清洗劑是用于顯影設(shè)備的無鉻清洗劑，用水稀釋后使用。中和劑是在用富士清洗劑洗凈顯影槽后，與使用液中和最后廢棄的藥品。清洗劑和中和劑為套裝。

膠片相關(guān)產(chǎn)品


梯度片: 基于ASME Section V ARTICLE 2 T-262以及ASTM E-1079的校準(zhǔn)濃度的標(biāo)準(zhǔn)濃度片。
控制條: 基于ASTM E999以及ISO 11699-2(EN584-2)的顯影系統(tǒng)的品質(zhì)調(diào)節(jié)產(chǎn)品。

【現(xiàn)貨出售】XRP-3000黑白光兩用照度計(jì)

網(wǎng)站管理員 — Mon, 20 Jan 2025 02:06:41 +0000

美國AccuMax XRP-3000黑白光兩用照度計(jì)具有結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)緊湊、重量輕、電池供電等優(yōu)勢，便于在工廠、現(xiàn)場或任何其他需要進(jìn)行測量的地方使用，可同時(shí)測量紫外線和可見光，滿足ASTM MPI和FPI規(guī)范要求，專為無損檢測應(yīng)用而設(shè)計(jì)。

咨詢采購相關(guān)產(chǎn)品，可登錄領(lǐng)翼NDT商城【ChinaNDTmarket.com】，或直接聯(lián)系我們【0756 - 688 0566 & 159 9266 1801（楊經(jīng)理）】

ASTM 鑄件射線檢測標(biāo)準(zhǔn)與中國標(biāo)準(zhǔn)對比多了些什么

網(wǎng)站管理員 — Mon, 20 Jan 2025 01:59:28 +0000

leidenchingu.com

前言

以下重點(diǎn)介紹鑄鋼件ASTM RT標(biāo)準(zhǔn)的主要內(nèi)容，就某些關(guān)鍵事項(xiàng)與GB 5677標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較，并就各自特點(diǎn)進(jìn)行分析。

1.影響射線照相質(zhì)量的要素

為了獲得高質(zhì)量的射線檢測照片，ASTM 規(guī)定了 11個(gè)重要因素：

①射線源(X射線或γ射線) ;

②電壓伏特?cái)?shù)的選擇(X射線) ;

③射線源的尺寸(X射線或γ射線) ;

④消除散射線的方法和手段;

⑤膠片系統(tǒng)類別;

⑥由射線源到膠片的距離;

⑦像質(zhì)計(jì);

⑧顯示屏和過濾片;

⑨鑄件的幾何形狀和外形;

⑩識別標(biāo)記和位置標(biāo)記;

?射線照相質(zhì)量等級。

這11個(gè)要素在GB5677標(biāo)準(zhǔn)中也有規(guī)定，但其中幾項(xiàng)在兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)中有很大的不同，而且ASTM標(biāo)準(zhǔn)中對每一項(xiàng)要素的規(guī)定都有更加詳細(xì)的說明。

2.射線照相質(zhì)量等級

ASTM對射線照相質(zhì)量等級規(guī)定為：除非采購方和供貨方之間達(dá)成協(xié)議決定采用更高或更低的質(zhì)量等級，通常所要求的質(zhì)量等級水平為2%，當(dāng)使用孔型像質(zhì)計(jì)時(shí)為2－2T。

其中，2－2T中第一個(gè)數(shù)字是像質(zhì)計(jì)的厚度，它以試樣的百分?jǐn)?shù)表示；第二個(gè)數(shù)字指的是膠片上可以見到的像質(zhì)計(jì)孔的直徑，它以透度計(jì)厚度的倍數(shù)表示。

GB5677中規(guī)定射線照相靈敏度等級分為A級：KA ≤2%；B級：KB≤1.5%；當(dāng)透照厚度小于10mm 時(shí)，K=2%。要求使用的像質(zhì)計(jì)為線性像質(zhì)計(jì)。

從上述的區(qū)別可以看出，通常情況下，ASTM標(biāo)準(zhǔn)對靈敏度的要求比GB5677低或者相當(dāng)。ASTM標(biāo)準(zhǔn)將更多的權(quán)利給予采購方和供貨方。

（領(lǐng)翼NDT商城-ASTM標(biāo)準(zhǔn)射線參考圖譜）

3.能量的選擇

ASTM規(guī)定根據(jù)鑄件厚度的半價(jià)層(HLV) 來選擇能量。

GB5677則分別給出了X射線管電壓與透照厚度的關(guān)系圖以及不同厚度范圍的射線源選擇表。

這個(gè)區(qū)別也說明了ASTM給予檢測人員更大的空間去選擇能量。

4.散射防護(hù)

ASTM標(biāo)準(zhǔn)對散射防護(hù)的規(guī)定和說明使用了大量的篇幅。比GB5677有更加詳細(xì)具體的說明。

所列舉的方法有：

①使用濾片吸收從試樣上的散射線，規(guī)定了位置，盡可能的靠近射線源，放置在試樣和膠片之間，并說明過濾片厚度和材料的選擇可以計(jì)算或完全憑經(jīng)驗(yàn)確定；

②遮蔽的方法，即采用吸收性材料把試樣包裹起來或覆蓋在薄的部分上以減少形狀不規(guī)則或窄小的試樣上的散射；

③補(bǔ)償?shù)姆椒?，同樣是用吸收性材料放在薄的部分上使得不同部分的吸收率等同起來，但是這樣會使薄的部分靈敏度降低；

④對于背面散射的防護(hù)，可以通過把輻射波束限制在盡可能小的橫截面上以及在膠片后放置鉛板的方法來實(shí)現(xiàn)。

由于大部分鑄件形狀很復(fù)雜，在檢測過程中鑄件本身容易產(chǎn)生大量的散射線，ASTM針對這種情況列舉的四種方法中有三種是防護(hù)從鑄件產(chǎn)生的散射線的。

這對檢測中降低散射線，提高底片質(zhì)量有很大幫助。

5.驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)

ASTM的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)，根據(jù)厚度分為51mm以下的E446，和51～114mm的E186。再根據(jù)射線源和能量進(jìn)行分類。

E446分為卷1:250kVX射線參考照片；卷2：1MV X射線和Ir192參考照片；卷3：2～4Mv 1MV X射線和Co60參考照片。

E186分為卷1：1MV X射線和Ir192參考照片；卷2：2MV X射線和Co60參考照片；卷3：4～30MV X射線參考照片。

ASTM標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的缺陷種類有：A、氣孔；B、夾砂和夾渣；C、縮孔和縮松；C又分為CA，條狀縮孔；CB、樹枝狀縮孔；CC、大面積縮孔；CD、縮松；D、冷裂紋；E、熱裂紋；F、未熔合；G、白點(diǎn)。

缺陷定性和定量的程序是：將待評定的鑄件射線照片與相似厚度條件下曝光的射線參考照片進(jìn)行比較，如果產(chǎn)品缺陷顯示嚴(yán)重等級與指定的參考照片相當(dāng)或更好，則為合格，如果產(chǎn)品缺陷顯示嚴(yán)重等級大于指定的參考照片，則為不合格。

ASTM詳細(xì)說明了怎樣確定白點(diǎn)、衍射狀斑點(diǎn)以及辨別熱裂紋和條狀縮松的方法。

雖然白點(diǎn)在每一卷的參考照片中都有，但是白點(diǎn)的外觀依賴于射線的能量級別。

可以看出，卷1中參考照片上的白點(diǎn)很清晰明顯，就是因?yàn)榫?是最低的能量級別，而在較高能量的卷2和卷3中白點(diǎn)顯示就不那么明顯了。

衍射狀斑點(diǎn)會出現(xiàn)在那些晶粒尺寸大到可以看到有材料那么厚的工件上，如果射線檢測底片上出現(xiàn)了衍射狀斑點(diǎn)，但不是很清晰或明顯，來證明它存在的方法有很多種。

在上述情況下出現(xiàn)的衍射狀斑點(diǎn)是否能在底片中顯示出來主要是由結(jié)晶幾何形狀和結(jié)晶與射線發(fā)生的方向所決定，于是對于樣品，射線方向的任何改變將會顯著影響衍射斑點(diǎn)的形狀，所以可以通過使工件從射線方向傾斜1～5°或者只是稍微移動一下射線中心線方向，任何縮孔等其它缺陷的影像將會移動一點(diǎn)點(diǎn)，而任何斑點(diǎn)的形狀將會顯著改變。

還有一種辦法就是提高電壓以減少衍射斑點(diǎn)數(shù)。

在X射線照片中，熱裂紋和條狀縮松的顯示很相似，當(dāng)難以辨別而無法確定是熱裂紋和條狀縮松時(shí)，應(yīng)當(dāng)在出現(xiàn)此缺陷的該區(qū)域所有表面進(jìn)行打磨，用磁粉或滲透檢測表面，如果沒有檢測出該顯示的裂紋，則認(rèn)為是縮松。

在GB5677中，缺陷種類中沒有白點(diǎn)；缺陷評定是根據(jù)具體的數(shù)據(jù)表格中允許的數(shù)量，尺寸來進(jìn)行的。

在實(shí)際用伽馬射線檢測鑄件中，白點(diǎn)的檢出率極低。

在筆者公司承接的鑄件檢測任務(wù)中，17萬張底片中僅有一張缺陷顯示為白點(diǎn)。

但是白點(diǎn)也屬于和裂紋一樣的危害缺陷，所以在用GB5677標(biāo)準(zhǔn)檢測時(shí)也不能放過白點(diǎn)類缺陷。

雖然ASTM的評定方法并不是根據(jù)具體的數(shù)據(jù)去度量從而定級別，這并不代表按照ASTM標(biāo)準(zhǔn)評定鑄件底片更主觀，相反，要求評片人員更要綜合、均衡地考慮缺陷的尺寸、數(shù)量、分布等狀態(tài)對缺陷進(jìn)行全面評估。

6.結(jié)束語

①以上就ASTM標(biāo)準(zhǔn)對鑄件射線檢測的方法和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)做了概略性介紹，并就某些重要技術(shù)細(xì)節(jié)，與GB5677進(jìn)行了比較和分析；

②ASTM對影響射線照相質(zhì)量的11個(gè)要素做了必要的規(guī)定和詳細(xì)的說明。提出了散射防護(hù)的四種方法，而散射線的防護(hù)對于鑄件檢測特別重要；

③ASTM的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn) 和GB5677大不相同。ASTM要求通過對比參考照片來確定鑄件合格與否。這要求評定底片的人員要綜合、均衡地考慮缺陷的尺寸、數(shù)量、分布狀態(tài)從而對缺陷進(jìn)行全面評估；

④ASTM詳細(xì)說明了怎樣確定白點(diǎn)、衍射狀斑點(diǎn)以及辨別熱裂紋和條狀縮松的方法。這些方法的提供提高了鑄件檢測缺陷的檢出率和評定的準(zhǔn)確率，幫助檢測人員去偽存真，為檢測及底片評定提供了明確的指導(dǎo)。

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ASTM參考射線圖譜E192到底是個(gè)什么神仙圖譜?

網(wǎng)站管理員 — Thu, 09 Jan 2025 05:09:14 +0000

以最熱銷的E192為例

ASTM E192航空用熔模鋼鑄件的參考射線圖譜

1.以本標(biāo)準(zhǔn)的附件提供的參考射線照片表示薄壁鋼熔模鑄件中產(chǎn)生的各種類型和程度的不連續(xù)性。

2.鑄件規(guī)范或級別分級使用本標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，要求對表示不連續(xù)性類型和嚴(yán)重程度的附件參考射線照片進(jìn)行采購。

附件底片旨在何處？8個(gè)點(diǎn)！

1.通過射線底片檢查能夠提供辨別薄壁鋼鑄件的不連續(xù)及其類型和程度差別的指導(dǎo)。提供表示不連續(xù)性的射線底片和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)、規(guī)范和圖紙中引用的專門用語。

2. 表示的兩種類型如下：

分級別：六種通用的不連續(xù)性類型，每種類型由嚴(yán)重程度遞增的八個(gè)級別表示。

不分級別：表示附加不連續(xù)性類型和一股不認(rèn)為是不連續(xù)性的形狀和缺陷的六個(gè)單個(gè)照片。

3.參考射線底片在厚度達(dá)1英寸(25.4毫米)的鑄件截面形成的。

4.本文件可用于無適合的現(xiàn)有文件的情況或可用于發(fā)現(xiàn)可適用的其他材料厚度，或可用于買方和制造方相互同意的材料厚度。

【注：拍攝這套參考膠片的X射線能量范圍為130~250kV。這套膠片共有16張81/2×11英寸(216×279mm),安放在93/4×111/2英寸(248×292mm)的合頁夾內(nèi)。】

5.制造工藝或參考射線底片附件材料可能不時(shí)地發(fā)生微小變化。

這些變化可能包括所用膠片或處理化學(xué)品的變化，紙板墊用模具或印刷的變化等；然而，在所有場合中，由圖解監(jiān)測分委員會來審查這些更改，同時(shí)所有參考射線底片相對于一個(gè)固定的原型照片來審查，以確保由參考射線底片所代表的可接受水平不會改變。

因此，附件參考射線底片保持有效地與本標(biāo)準(zhǔn)一起使用，而不管生產(chǎn)日期或文本標(biāo)準(zhǔn)的版本級別。

6.這些參考射線底片將不用于圖解當(dāng)執(zhí)行數(shù)字化X射線照相時(shí)在航空熔模鑄件內(nèi)發(fā)現(xiàn)的不連續(xù)的類型和程度。

當(dāng)對這些鑄件執(zhí)行數(shù)字化X射線照相時(shí)，參考數(shù)字化參考底片標(biāo)準(zhǔn)E2660。

7.以英寸-磅為單位表示的數(shù)值被當(dāng)作是標(biāo)準(zhǔn)值，括號內(nèi)表示的值是SI單位的數(shù)學(xué)換算值，僅供參考，不視為標(biāo)準(zhǔn)值。

8.本標(biāo)準(zhǔn)并沒有完全列舉所有的安全聲明，如果有必要，根據(jù)實(shí)際使用情況進(jìn)行斟酌。

使用本規(guī)范前，使用者有責(zé)任制定符合安全和健康要求的條例和規(guī)范，并明確該規(guī)范的使用范圍。

如何擁有？

雙11福利 | 2024年無損檢測ISO標(biāo)準(zhǔn)全集，8種方法101個(gè)標(biāo)準(zhǔn)，高清電子版免費(fèi)獲??！

網(wǎng)站管理員 — Tue, 12 Nov 2024 02:02:35 +0000

ISO標(biāo)準(zhǔn)

如何獲取高清電子版

2024年無損檢測ISO標(biāo)準(zhǔn)全集

高清電子版，獲取方式見文后

ISO 國際組織共有340個(gè)技術(shù)委員會，其中第135個(gè)，就是無損檢測。

截至今日，該技術(shù)委員會共發(fā)布101個(gè)NDT相關(guān)的ISO標(biāo)準(zhǔn)，詳情如下：

ISO/TC/135 分技術(shù)委員會	發(fā)布標(biāo)準(zhǔn)數(shù)量
ISO/TC/135/SC2 表面檢測方法	14
ISO/TC/135/SC3 超聲檢測	22
ISO/TC/135/SC4 渦流檢測	7
ISO/TC/135/SC5 射線檢測	28
ISO/TC/135/SC6 泄漏檢測	4
ISO/TC/135/SC7 人員認(rèn)證	7
ISO/TC/135/SC8 紅外熱像檢測	5
ISO/TC/135/SC9 聲發(fā)射檢測	13

標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)目錄如下：

ISO

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ISO/TC 135/SC 2 Surface methods

表面檢測共有14個(gè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

ONE

1	ISO 3057:1998 Non-destructive testing — Metallographic replica techniques of surface examination
2	ISO 3058:1998 Non-destructive testing — Aids to visual inspection — Selection of low-power magnifiers
3	ISO 3059:2012 Non-destructive testing — Penetrant testing and magnetic particle testing — Viewing conditions
4	ISO 3452-1:2021 Non-destructive testing — Penetrant testing —Part 1: General principles
5	ISO 3452-2:2021 Non-destructive testing — Penetrant testing — Part 2: Testing of penetrant materials
6	ISO 3452-3:2013 Non-destructive testing — Penetrant testing — Part 3: Reference test blocks
7	ISO 3452-4:1998 Non-destructive testing — Penetrant testing — Part 4: Equipment
8	ISO 3452-5:2008 Non-destructive testing — Penetrant testing — Part 5: Penetrant testing at temperatures higher than 50 degrees C
9	ISO 3452-6:2008 Non-destructive testing — Penetrant testing — Part 6: Penetrant testing at temperatures lower than 10 degrees C
10	ISO 9934-1:2016 Non-destructive testing — Magnetic particle testing — Part 1: General principles
11	ISO 9934-2:2015 Non-destructive testing — Magnetic particle testing — Part 2: Detection media
12	ISO 9934-3:2015 Non-destructive testing — Magnetic particle testing — Part 3: Equipment
13	ISO 12706:2009 Non-destructive testing — Penetrant testing — Vocabulary
14	ISO 12707:2016 Non-destructive testing — Magnetic particle testing — Vocabulary

ISO

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ISO/TC 135/SC 3 Ultrasonic testing

超聲檢測共有22個(gè)標(biāo)準(zhǔn)

TWO

1	ISO 2400:2012 Non-destructive testing — Ultrasonic testing — Specification for calibration block No. 1
2	ISO 4773:2023 Non-destructive testing — Ultrasonic guided-wave testing using the phased-array technique
3	ISO 5577:2017 Non-destructive testing — Ultrasonic testing — Vocabulary
4	ISO 7963:2022 Non-destructive testing — Ultrasonic testing — Specification for calibration block No. 2
5	ISO 16809:2017 Non-destructive testing — Ultrasonic thickness measurement
6	ISO 16810:2024 Non-destructive testing — Ultrasonic testing — General principles
7	ISO 16811:2012 Non-destructive testing — Ultrasonic testing — Sensitivity and range setting
8	ISO 16823:2012 Non-destructive testing — Ultrasonic testing — Transmission technique
9	ISO 16826:2012 Non-destructive testing — Ultrasonic testing — Examination for discontinuities perpendicular to the surface
10	ISO 16827:2012 Non-destructive testing — Ultrasonic testing — Characterization and sizing of discontinuities
11	ISO 16828:2012 Non-destructive testing — Ultrasonic testing — Time-of-flight diffraction technique as a method for detection and sizing of discontinuities
12	ISO/TS 16829:2017 Non-destructive testing — Automated ultrasonic testing — Selection and application of systems
13	ISO 16831:2012 Non-destructive testing — Ultrasonic testing — Characterization and verification of ultrasonic thickness measuring equipment
14	ISO 16946:2024 Non-destructive testing — Ultrasonic testing — Specification for a step wedge standard block
15	ISO 18563-1:2022 Non-destructive testing — Characterization and verification of ultrasonic phased array equipment — Part 1: Instruments
16	ISO 18563-2:2024 Non-destructive testing — Characterization and verification of ultrasonic phased array equipment — Part 2: Array probes
17	ISO 18563-3:2024 Non-destructive testing — Characterization and verification of ultrasonic phased array equipment — Part 3: Complete systems
18	ISO 22232-1:2020 Non-destructive testing — Characterization and verification of ultrasonic test equipment — Part 1: Instruments
19	ISO 22232-2:2020 Non-destructive testing — Characterization and verification of ultrasonic test equipment — Part 2: Probes
20	ISO 22232-3:2020 Non-destructive testing — Characterization and verification of ultrasonic test equipment — Part 3: Combined equipment
21	ISO 23243:2020 Non-destructive testing — Ultrasonic testing with arrays — Vocabulary
22	ISO 24647:2023 Non-destructive testing — Robotic ultrasonic test systems — General requirements

ISO

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ISO/TC 135/SC 4 Eddy current testing

渦流檢測共有7個(gè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

THREE

1	ISO 12718:2019 Non-destructive testing — Eddy current testing — Vocabulary
2	ISO 15548-1:2013 Non-destructive testing — Equipment for eddy current examination — Part 1: Instrument characteristics and verificatio
3	ISO 15548-2:2013 Non-destructive testing — Equipment for eddy current examination — Part 2: Probe characteristics and verification
4	ISO 15548-3:2008 Non-destructive testing — Equipment for eddy current examination — Part 3: System characteristics and verification
5	ISO 15549:2019 Non-destructive testing — Eddy current testing — General principles
6	ISO 20339:2017 Non-destructive testing — Equipment for eddy current examination — Array probe characteristics and verification
7	ISO 20669:2017 Non-destructive testing — Pulsed eddy current testing of ferromagnetic metallic components

ISO

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ISO/TC 135/SC 5 Radiographic testing

射線檢測共有28個(gè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

FOUR

1	ISO 5576:1997 Non-destructive testing — Industrial X-ray and gamma-ray radiology — Vocabulary
2	ISO 5579:2013 Non-destructive testing — Radiographic testing of metallic materials using film and X- or gamma rays — Basic rules
3	ISO 5580:2023 Non-destructive testing — Industrial radiographic illuminators — Minimum requirements
4	ISO 11699-1:2008 Non-destructive testing — Industrial radiographic film — Part 1: Classification of film systems for industrial radiography
5	ISO 11699-2:2018 Non-destructive testing — Industrial radiographic films — Part 2: Control of film processing by means of reference values
6	ISO 12721:2000 Non-destructive testing — Thermal neutron radiographic testing — Determination of beam L/D ratio
7	ISO 14096-1:2005 Non-destructive testing — Qualification of radiographic film digitisation systems — Part 1: Definitions, quantitative measurements of image quality parameters, standard reference film and qualitative control
8	ISO 14096-2:2005 Non-destructive testing — Qualification of radiographic film digitisation systems — Part 2: Minimum requirements
9	ISO 15708-1:2024 Non-destructive testing — Radiation methods for computed tomography — Part 1: Vocabulary
10	ISO 15708-2:2017 Non-destructive testing — Radiation methods for computed tomography — Part 2: Principles, equipment and samples
11	ISO 15708-3:2017 Non-destructive testing — Radiation methods for computed tomography — Part 3: Operation and interpretation
12	ISO 15708-4:2017 Non-destructive testing — Radiation methods for computed tomography — Part 4: Qualification
13	ISO 16371-1:2011 Non-destructive testing — Industrial computed radiography with storage phosphor imaging plates — Part 1: Classification of systems
14	ISO 16371-2:2017 Non-destructive testing — Industrial computed radiography with storage phosphor imaging plates — Part 2: General principles for testing of metallic materials using X-rays and gamma rays
15	ISO 16526-1:2011 Non-destructive testing — Measurement and evaluation of the X-ray tube voltage — Part 1: Voltage divider method
16	ISO 16526-2:2011 Non-destructive testing — Measurement and evaluation of the X-ray tube voltage — Part 2: Constancy check by the thick filter method
17	ISO 16526-3:2011 Non-destructive testing — Measurement and evaluation of the X-ray tube voltage — Part 3: Spectrometric method
18	ISO 19232-1:2013 Non-destructive testing — Image quality of radiographs — Part 1: Determination of the image quality value using wire-type image quality indicators
19	ISO 19232-2:2013 Non-destructive testing — Image quality of radiographs — Part 2: Determination of the image quality value using step/hole-type image quality indicators
20	ISO 19232-3:2013 Non-destructive testing — Image quality of radiographs — Part 3: Image quality classes
21	ISO 19232-4:2013 Non-destructive testing — Image quality of radiographs — Part 4: Experimental evaluation of image quality values and image quality tables
22	ISO 19232-5:2018 Non-destructive testing — Image quality of radiographs — Part 5: Determination of the image unsharpness and basic spatial resolution value using duplex wire-type image quality indicators
23	ISO 20769-1:2018 Non-destructive testing — Radiographic inspection of corrosion and deposits in pipes by X- and gamma rays — Part 1: Tangential radiographic inspection
24	ISO 20769-2:2018 Non-destructive testing — Radiographic inspection of corrosion and deposits in pipes by X- and gamma rays — Part 2: Double wall radiographic inspection
25	ISO 21432:2019 Non-destructive testing — Standard test method for determining residual stresses by neutron diffraction
26	ISO 23159:2020 Non-destructive testing — Gamma ray scanning method on process columns
27	ISO 32543-1:2024 Non-destructive testing — Characteristics of focal spots in industrial X-ray systems — Part 1: Pinhole camera radiographic method
28	ISO 32679:2024 Non-destructive testing — Radiographic testing — Determination of the size of industrial radiographic gamma sources

ISO

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ISO/TC 135/SC 6 Leak testing

泄漏檢測共有4個(gè)標(biāo)準(zhǔn)

FIVE

1	ISO 3530:1979 Vacuum technology — Mass-spectrometer-type leak-detector calibration
2	ISO 20484:2017 Non-destructive testing — Leak testing — Vocabulary
3	ISO 20485:2017 Non-destructive testing — Leak testing — Tracer gas method
4	ISO 20486:2017 Non-destructive testing — Leak testing — Calibration of reference leaks for gases

ISO

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ISO/TC 135/SC 7 Personnel qualification

人員認(rèn)證有7個(gè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

SIX

1	ISO 12718:2019 Non-destructive testing — Eddy current testing — Vocabulary
2	ISO 15548-1:2013 Non-destructive testing — Equipment for eddy current examination — Part 1: Instrument characteristics and verificatio
3	ISO 15548-2:2013 Non-destructive testing — Equipment for eddy current examination — Part 2: Probe characteristics and verification
4	ISO 15548-3:2008 Non-destructive testing — Equipment for eddy current examination — Part 3: System characteristics and verification
5	ISO 15549:2019 Non-destructive testing — Eddy current testing — General principles
6	ISO 20339:2017 Non-destructive testing — Equipment for eddy current examination — Array probe characteristics and verification
7	ISO 20669:2017 Non-destructive testing — Pulsed eddy current testing of ferromagnetic metallic components

ISO

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ISO/TC 135/SC 8 Thermographic testing

紅外熱像檢測有4個(gè)標(biāo)準(zhǔn)

SEVEN

1	ISO 10878:2013 Non-destructive testing — Infrared thermography — Vocabulary
2	ISO 10880:2017 Non-destructive testing — Infrared thermographic testing — General principles
3	ISO 18251-1:2017 Non-destructive testing — Infrared thermography — Part 1: Characteristics of system and equipment
4	ISO 18251-2:2023 Non-destructive testing — Infrared thermography — Part 2: Test method for integrated performance of system and equipment
5	ISO 22290:2020 Non-destructive testing — Infrared thermographic testing — General principles for thermoelastic stress measuring method

ISO

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ISO/TC 135/SC 9 Acoustic emission testing

聲發(fā)射檢測目前有13個(gè)標(biāo)準(zhǔn)

EIGHT

1	ISO 12713:1998 Non-destructive testing — Acoustic emission inspection — Primary calibration of transducers
2	ISO 12714:1999 Non-destructive testing — Acoustic emission inspection — Secondary calibration of acoustic emission sensors
3	ISO 12716:2001 Non-destructive testing — Acoustic emission inspection — Vocabulary
4	ISO/TR 13115:2011 Non-destructive testing — Methods for absolute calibration of acoustic emission transducers by the reciprocity technique
5	ISO 16836:2019 Non-destructive testing — Acoustic emission testing — Measurement method for acoustic emission signals in concrete
6	ISO 16837:2019 Non-destructive testing — Acoustic emission testing — Test method for damage qualification of reinforced concrete beams
7	ISO 16838:2019 Non-destructive testing — Acoustic emission testing — Test method for classification of active cracks in concrete structures
8	ISO 18081:2024 Non-destructive testing — Acoustic emission testing (AT) — Leak detection by means of acoustic emission
9	ISO 18249:2015 Non-destructive testing — Acoustic emission testing — Specific methodology and general evaluation criteria for testing of fibre-reinforced polymers
10	ISO 19835:2018 Non-destructive testing — Acoustic emission testing — Steel structures of overhead travelling cranes and portal bridge cranes
11	ISO 24367:2023 Non-destructive testing — Acoustic emission testing — Metallic pressure equipment
12	ISO 24489:2024 Non-destructive testing — Acoustic emission testing — Detection of corrosion at atmospheric and low-pressure metallic storage tank floors
13	ISO 24543:2022 Non-destructive testing — Acoustic emission testing — Verification of the receiving sensitivity spectra of piezoelectric acoustic emission sensors

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2025年無損檢測員證書報(bào)名流程及條件，職業(yè)前景如何？

網(wǎng)站管理員 — Fri, 01 Nov 2024 08:56:29 +0000

無損檢測員報(bào)考指南

無損檢測員是一個(gè)專業(yè)性強(qiáng)、應(yīng)用范圍廣的職業(yè)，保障設(shè)備安全和延長使用壽命具有重要意義。如果您對無損檢測技術(shù)感興趣并希望成為合格的無損檢測員，以下是報(bào)考條件和流程的簡要介紹。

一、報(bào)考條件

學(xué)歷要求：需具備大專及以上學(xué)歷，機(jī)械工程、材料科學(xué)、物理學(xué)等相關(guān)專業(yè)優(yōu)先。

年齡要求：一般要求年齡在18至45周歲之間。

身體條件：需具備良好的視力和手眼協(xié)調(diào)能力，符合相關(guān)體檢標(biāo)準(zhǔn)。

培訓(xùn)經(jīng)歷：需參加無損檢測培訓(xùn)課程并取得結(jié)業(yè)證書。

二、報(bào)考流程

了解考試信息：關(guān)注無損檢測培訓(xùn)機(jī)構(gòu)官方網(wǎng)站或招聘平臺，獲取最新考試信息和報(bào)名時(shí)間。

準(zhǔn)備材料：準(zhǔn)備個(gè)人身份證、學(xué)歷證明、培訓(xùn)證書等相關(guān)材料。

在線報(bào)名：在規(guī)定時(shí)間內(nèi)登錄報(bào)名網(wǎng)站預(yù)約，比如www.ly-ndt.com，填寫個(gè)人信息并按要求上傳所需材料。
繳納費(fèi)用：按照指定方式繳納考試費(fèi)用。

參加考試：根據(jù)準(zhǔn)考證上的時(shí)間和地點(diǎn)參加考試。

三、職業(yè)前景

無損檢測員職業(yè)具有較高的含金量，主要體現(xiàn)在專業(yè)性強(qiáng)、應(yīng)用廣泛、薪資待遇優(yōu)厚和職業(yè)發(fā)展空間大等方面。通過系統(tǒng)學(xué)習(xí)和實(shí)踐，您將有望成為優(yōu)秀的無損檢測員，為社會的安全與發(fā)展貢獻(xiàn)力量。

如需了解更多關(guān)于報(bào)考條件、報(bào)名入口、時(shí)間和費(fèi)用的信息，歡迎關(guān)注《領(lǐng)翼國際無損檢測培訓(xùn)》微信公眾號，或添加微信：LY_NDT，在線解答您的疑問。

水洗型滲透劑和非水洗型滲透劑之間的差異，選擇適合的應(yīng)用方法

網(wǎng)站管理員 — Fri, 25 Oct 2024 02:34:18 +0000

為各種應(yīng)用形式選擇合適的滲透劑需要考慮多種因素。首先需要考慮的因素是所遵從的指導(dǎo)規(guī)范，另外您還需要考慮工件的結(jié)構(gòu)及外形、表面光潔度、擬探缺陷的大小和位置，以及工件的功能和使用環(huán)境，例如位于關(guān)鍵的旋轉(zhuǎn)或移動部位的部件需要能夠耐高溫。

為了滿足各種不同應(yīng)用的需求，滲透劑材料設(shè)計(jì)各不相同，具有不同的優(yōu)缺點(diǎn)。

在本文中，我們將對水洗型滲透劑和后乳化型滲透劑進(jìn)行比較，并突出介紹這兩種滲透劑的差異。

水洗型滲透劑

水洗方法備受歡迎，因?yàn)榕c后乳化的方法相比，通常成本更低廉，并且因處理步驟較少使處理時(shí)間更快。

水洗型滲透劑（方法A）有熒光（1類）或著色（2類）滲透劑，熒光滲透劑分有多個(gè)靈敏度等級。

水洗型滲透劑在粗糙表面工件、有螺紋或溝槽工件以及帶孔工件上效果最佳，適用于自動滲透線、大型工件和泄漏檢測。

水洗型滲透劑可通過手動或自動噴水清洗、手動擦拭或浸泡攪拌去除。如使用手動噴洗，水壓不應(yīng)超過40psi (0.27MPa)；溫度應(yīng)在10°C-38°C/50°F -100°F之間，距離工件至少30 cm/12in。

雖然水洗處理有其優(yōu)勢，但一些規(guī)范限制其使用。因?yàn)閷τ谏疃葴\的不連續(xù)可能會發(fā)生過洗，因此清洗時(shí)間對該過程至關(guān)重要。

水洗型滲透劑的優(yōu)點(diǎn)

成本低（無需乳化劑）

處理步驟更少

處理時(shí)間更短

無需考慮與乳化劑滴落時(shí)間相關(guān)的變量

水洗型滲透劑的缺點(diǎn)

- 在深度淺的缺陷上可能發(fā)生過洗
- 清洗時(shí)間至關(guān)重要
- 滲透劑容易被水污染

美國磁通水洗型滲透劑：

- ZL-15B，1/2 級水洗型熒光滲透劑
- ZL-19，1級水洗型熒光滲透劑
- ZL-60D，2級水洗型熒光滲透劑
- ZL-67，3級水洗型熒光滲透劑
- ZL-56，4級水洗型熒光滲透劑
- SKL-WP2，水洗型著色滲透劑

與水洗型滲透劑搭配使用的顯像劑

顯像劑可增加著色和熒光滲透劑的可見性。顯像劑將滲透劑從缺陷處吸出，并在工件表面上擴(kuò)展，以增強(qiáng)視覺效果。顯像劑應(yīng)易于形成均勻的涂層，易于施加和去除，并能夠與所選的滲透劑很好地搭配使用。

干粉顯像劑，如ZP-4B干粉顯像劑，通常與熒光水洗型滲透劑搭配使用。使用干粉顯像劑之前，需要確保清洗后的工件完全干燥。干粉顯像劑可以通過埋入或用手持式噴槍噴灑施加。在自動滲透線中，干粉顯像劑可在漩渦云霧或動態(tài)云霧顯像站進(jìn)行施加。美國磁通推薦使用集塵器將干粉從顯像室排出。

對于采用熒光滲透劑噴罐進(jìn)行的檢測，非水性顯像劑如ZP-9F溶劑型顯像劑是一種便捷的顯像劑。使用SKL-WP2這樣的水洗型著色滲透劑，建議搭配使用非水性溶劑型顯像劑。

水溶性顯像劑不推薦與水洗型滲透劑搭配使用，與這些滲透劑一起使用時(shí)，水溶性顯像劑可能會成為額外添加的乳化劑而將滲透劑去掉。許多規(guī)范禁止水溶性顯像劑與水洗型滲透劑搭配使用。

后乳化型滲透劑

在去除工件多余的滲透劑時(shí)，如擔(dān)心可能出現(xiàn)的過洗對檢測結(jié)果的影響，則可使用后乳化型滲透劑。這些工件通常具有光滑的表面，且它們在部件上具有關(guān)鍵功能，因此要求對較小的缺陷有更高的檢測靈敏度。

后乳化型滲透劑需要單獨(dú)的乳化劑或去除劑來分解滲透劑，使表面多余的滲透劑可用水洗掉，而同時(shí)讓缺陷內(nèi)的滲透劑保持不變。

方法C是用溶劑去除的方法，依賴于溶劑型清洗劑，如SKC-S溶劑型清洗劑，用以將滲透劑從被檢工件上去除。

方法B親油性和方法D親水性后乳化去除方法則需要額外的處理步驟，可施加單獨(dú)的乳化劑，從而使多余的滲透劑更易用水去除。親油性乳化劑是以即用形式供應(yīng)的油基物質(zhì)。親水性乳化劑是水性的，以濃縮液形式供應(yīng)，使用前必須用水稀釋。

后乳化型滲透劑的優(yōu)點(diǎn)

- 對較小缺陷的靈敏度更高
- 更適用于顯示寬而淺的缺陷
- 從工件表面去除多余滲透劑時(shí)更易控制

后乳化型滲透劑的缺點(diǎn)

- 使用方法B或方法D時(shí)需要執(zhí)行額外的處理步驟
- 乳化時(shí)間的控制至關(guān)重要
- 難以去除螺紋工件、帶孔工件和帶槽工件上的滲透劑
- 在粗糙表面效果不佳

美國磁通后乳化型滲透劑：

- ZL-2C，2級后乳化型熒光滲透劑
- ZL-27A，3級后乳化型熒光滲透劑
- ZL-37，4級后乳化型熒光滲透劑

與后乳化型滲透劑搭配使用的乳化劑

親油性乳化劑，如 ZE-4E 親油性乳化劑，通過化學(xué)與機(jī)械作用進(jìn)行乳化。用親油性乳化劑涂覆于工件的表面后，隨著混合物從工件吸出，機(jī)械作用即可開始去除一些多余的滲透劑。在乳化期間，乳化劑擴(kuò)散到留在工件表面的滲透劑中，形成的混合物可以輕松使用噴水去除。

親水性乳化劑，如 ZR-10E 親水性乳化劑，也是以機(jī)械和化學(xué)作用相結(jié)合去除多余的滲透劑，但其作用原理與親油性乳化劑不同，因?yàn)樗粫l(fā)生擴(kuò)散作用。親水性乳化劑一般是在其制劑中包含表面活性劑的洗滌劑。親水性乳化劑將滲透劑分解成小片，并防止這些小片重新組合或重新附著到工件表面。接著，即可用水對工件表面進(jìn)行沖洗以去除脫離的滲透劑，使新鮮的乳化劑可以接觸工件表面并去除新吸出的滲透劑。

與后乳化型滲透劑搭配使用的顯像劑

大多數(shù)類型的顯像劑都適合與后乳化型（PE）滲透劑搭配使用，包括a型干粉顯像劑、b型水溶性顯像劑、c型水懸浮式顯像劑、d型非水溶性顯像劑（用于1類熒光滲透劑）和e型非水溶性顯像劑（用于2類著色滲透劑）。

干粉顯像劑，如 ZP-4B，也常與后乳化型熒光滲透劑搭配使用。使用干粉顯像劑之前，確保清洗后的工件完全干燥至關(guān)重要。干粉顯像劑可以通過埋入、用手持槍噴灑或通過自動化系統(tǒng)撒粉來施加。

非水性顯像劑，如 ZP-9F溶劑型顯像劑，為噴罐形式包裝，可便捷的采用熒光滲透劑噴罐進(jìn)行檢測。

盡管與干粉顯像劑相比不太常見，水溶性顯像劑亦可與后乳化型滲透劑搭配使用。ZP-14A水溶性顯像劑為白色粉末，可溶于水中形成顯像劑溶液。ZP-14A配制成顯像劑溶液后，使用時(shí)無需再進(jìn)行攪拌。

《磁粉檢測耗材之標(biāo)準(zhǔn)試片知識》實(shí)用文檔

網(wǎng)站管理員 — Fri, 20 Sep 2024 07:39:50 +0000

《磁粉檢測耗材之標(biāo)準(zhǔn)試片知識》PDF版

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磁懸液污染物測定方法

網(wǎng)站管理員 — Thu, 05 Sep 2024 07:17:44 +0000

在磁粉檢測中，磁粉是探傷過程中必不可少的材料，磁懸液的質(zhì)量更關(guān)系到整個(gè)探傷成功與否，因此檢測前對磁懸液的測試至關(guān)重要，但是標(biāo)準(zhǔn)中對磁懸液沉淀和污染的描述相對簡單，因此本章節(jié)討論濕法磁懸液的污染物測定方法。

從施加方法上區(qū)分：磁粉可分會干法和濕法。

從檢測方法上區(qū)分：磁粉又分為熒光和非熒光（彩色：紅色、黑色）

從添加載液上區(qū)分：油基（黑油磁懸液）和水基（黑水磁懸液）

磁懸液污染測試方法: 標(biāo)準(zhǔn)NB/T47013.4-2015、ASME V

1、取樣前，采用循環(huán)系統(tǒng)將磁懸液充分?jǐn)嚢杈鶆颉?/span>

2、提取100ml磁懸液注入梨形管中，靜置60分鐘檢查梨形管中沉淀物，上層污染物體積超過下層污染物體積30%或在黑光下檢查熒光磁懸液的載體發(fā)出明顯熒光時(shí)，即可判定磁懸液污染，需要重新更換磁懸液。

3、對于循環(huán)使用的磁懸液，至少每周測定一次污染物體積。

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